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Global and local grain analysis during in-situ straining by TEM automated crystal orientation and phase mapping (ACOM) (EBSD-like TEM)

Kobler, A.; Hahn, H.; Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230086635
HGF-Programm 43.16.01; LK 02
Erscheinungsvermerk 15th European Microscopy Congress (EMC 2012), Manchester, GB, September 16-21, 2012
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