Quantitative grain size and twin density analysis by TEM-OIM measurements for tensile testing of nanocrystalline Pd
Kobler, A.; Castrup, A.; Kübel, C.
; Hahn, H.
; Hahn, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230086942 |
| HGF-Programm | 43.16.01 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for micro a.nanostruct. |
| Erscheinungsvermerk | 76. Jahrestagung der DPG und DPG-Frühjahrstagung, Fachverband Metall- und Materialphysik, Berlin, D, 25.-30. März 2012 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.47(2012), MM 20.2 |