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Quantitative grain size and twin density analysis by TEM-OIM measurements for tensile testing of nanocrystalline Pd

Kobler, A.; Castrup, A.; Kübel, C.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230086942
HGF-Programm 43.16.01; LK 02
Erscheinungsvermerk 76. Jahrestagung der DPG und DPG-Frühjahrstagung, Fachverband Metall- und Materialphysik, Berlin, D, 25.-30. März 2012 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.47(2012), MM 20.2
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