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In situ X-ray study of vanadium carbide

Krause, B.; Darma, S.; Baumbach, T.; Stüber, M.; Ulrich, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230086987
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials : 6th Size-Strain Conf., Hyeres, Presqu'Ile de Giens, F, October 17-20, 2011
URLs Abstract (PDF)
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