In situ X-ray study of vanadium carbide
Krause, B.
; Darma, S.; Baumbach, T.; Stüber, M.; Ulrich, S.
; Darma, S.; Baumbach, T.; Stüber, M.; Ulrich, S.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230086987 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Diffraction Analysis of the Microstructure of Materials : 6th Size-Strain Conf., Hyeres, Presqu'Ile de Giens, F, October 17-20, 2011 |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |