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In-situ straining analyses by TEM orientation mapping (EBSD-like TEM). Direct imaging of deformation processes in nanocrystalline metals

Kobler, A.; Hahn, H.; Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230087104
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Microscopy and Microanalysis Meeting (M&M 2012), Phoenix, Ariz., July 29 - August 2, 2012
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