In-situ straining analyses by TEM orientation mapping (EBSD-like TEM). Direct imaging of deformation processes in nanocrystalline metals
Kobler, A.; Hahn, H.; Kübel, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230087104 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Microscopy and Microanalysis Meeting (M&M 2012), Phoenix, Ariz., July 29 - August 2, 2012 |