Applications of dual beam SEM/FIB for microstructure analysis of refractory materials

Jäntsch, U.; Klimenkov, M.

; Scherer, T.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230087572
HGF-Programm	31.40.03 (POF II, LK 01) Materialentwicklung
Erscheinungsvermerk	7.FIB-Workshop, Dresden, 25.-27.Juni 2012