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Applications of dual beam SEM/FIB for microstructure analysis of refractory materials

Jäntsch, U.; Klimenkov, M.; Rieth, M.; Scherer, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230087572
HGF-Programm 31.40.03; LK 01
Erscheinungsvermerk 7.FIB-Workshop, Dresden, 25.-27.Juni 2012
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