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In-situ ACOM-TEM for direct imaging of deformation processes of nanocrystalline metals by straining inside the TEM

Kobler, A.; Kübel, C.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230087880
HGF-Programm 43.16.01; LK 02
Erscheinungsvermerk Biannual Internat.Conf.on Materials Science Engineering (MSE 2012), Darmstadt, September 25-27, 2012
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