In-situ straining analysis by TEM orientation mapping (EBSD-like TEM). Direct imaging of deformation processes in nanocrystalline metals
Kübel, C.
; Kobler, A.; Hahn, H.
; Kobler, A.; Hahn, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230088973 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Materials Research Society Fall Meeting 2012, Boston, Mass., November 25-30, 2012 |