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Optimierung thermischer Prozesse mit kamerabasierten Auswerteverfahren und dem INSPECT pro control System

Keller, H.B.; Matthes, J.; Seifert, R.; Waibel, P.; Schönecker, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 230089386
HGF-Programm 34.02.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Forum INP, Speyer, 15.-16. November 2012
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