Optimierung thermischer Prozesse mit kamerabasierten Auswerteverfahren und dem INSPECT pro control System

Keller, H. B.; Matthes, J.; Seifert, R.; Waibel, P.; Schönecker, H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Deutsch
Identifikator	KITopen-ID: 230089386
HGF-Programm	34.02.02 (POF II, LK 01) Simulation und Messtechnik
Erscheinungsvermerk	Forum INP, Speyer, 15.-16. November 2012