Warum alles kaputt geht - und das manchmal gar nicht schlimm ist; Form und Versagen in Natur und Technik
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230089536 |
| HGF-Programm | 34.04.04 (POF II, LK 01) Anwendungen für neue Prozesse u.Produkte |
| Erscheinungsvermerk | Fiasco - ma non troppo : Vom Designfehler zum Fehlerdesign; 21. Designtheoretisches Symposium, Halle, 8.-10. November 2012 |