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In-situ straining analysis by TEM orientation mapping (EBSD-like TEM) - Direct imaging of deformation processes in nanocrystalline metals

Kübel, Ch.; Kobler, A.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230089752
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Mass., November 25-30, 2012
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