In-situ straining analysis by TEM orientation mapping (EBSD-like TEM) - Direct imaging of deformation processes in nanocrystalline metals

; Kobler, A.; Hahn, H.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230089752
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erscheinungsvermerk	MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Mass., November 25-30, 2012