KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

High and very high cycle fatigue in AI and Cu thin films on Si substrate

Burger, S.; Eberl, C.; Siegel, A.; Ludwig, A.; Kraft, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230089781
HGF-Programm 43.15.03 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk TMS 141st Annual Meeting and Exhibition, Orlando, Fla., March 11-15, 2012
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page