Evolution of temperature profiles during stress-induced transformation in niti thin film

Krevet, B.; Pinneker, V.; Rhode, M.; Bechthold, C.; Quandt, E.; Kohl, M.

Seitenaufrufe: 29
seit 27.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230090104
HGF-Programm	43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erscheinungsvermerk	European Symposium on Martensic Transformations (ESOMAT 2012), St. Petersburg, Russia, September 9-16, 2012