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Evolution of temperature profiles during stress-induced transformation in niti thin film

Krevet, B.; Pinneker, V.; Rhode, M.; Bechthold, C.; Quandt, E.; Kohl, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230090104
HGF-Programm 43.12.03; LK 01
Erscheinungsvermerk European Symposium on Martensic Transformations (ESOMAT 2012), St. Petersburg, Russia, September 9-16, 2012
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