In situ XRR measurements during growth of polycrystalline vanadium carbide thin films

; Kotapati, S.; Mantilla, M.; Baumbach, T.

Seitenaufrufe: 16
seit 27.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230090141
HGF-Programm	43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik
Erscheinungsvermerk	11th Biennial Conf.on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012), St.Petersburg, Russia, September 15-20, 2012