In situ XRR measurements during growth of polycrystalline vanadium carbide thin films
Kaufholz, M.; Krause, B.
; Kotapati, S.; Mantilla, M.; Baumbach, T.
; Kotapati, S.; Mantilla, M.; Baumbach, T.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230090141 |
| HGF-Programm | 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik |
| Erscheinungsvermerk | 11th Biennial Conf.on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP 2012), St.Petersburg, Russia, September 15-20, 2012 |