In situ X-Ray Reflectivity measurements during sputtering of vanadium carbide thin films
Kaufholz, M.; Krause, B.
; Kotapati, S.; Stüber, M.; Ulrich, S.; Baumbach, T.
; Kotapati, S.; Stüber, M.; Ulrich, S.; Baumbach, T.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien – Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230090298 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Spring Meeting of the European Materials Research Society, Strasbourg, F, May 14-18, 2012 |