Analysis of deformation induced grain growth and texture development in electrodeposited Nickel. A quantitative comparison between ACOM-STEM and in-situ X-ray diffraction
Kübel, C.
; Kobler, A.; Gruber, P. A.; Lohmiller, J.; Kraft, O.; Braun, C.; Grewer, M.; Birringer, R.; Hahn, H.
; Kobler, A.; Gruber, P. A.; Lohmiller, J.; Kraft, O.; Braun, C.; Grewer, M.; Birringer, R.; Hahn, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230090928 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erscheinungsvermerk | Microscopy & Microanalysis 2013 Meeting, Indianapolis, Ind., August 4-8, 2013 |