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Analysis of deformation induced grain growth and texture development in electrodeposited Nickel. A quantitative comparison between ACOM-STEM and in-situ X-ray diffraction

Kübel, C.; Kobler, A.; Gruber, P.A.; Lohmiller, J.; Kraft, O.; Braun, C.; Grewer, M.; Birringer, R.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230090928
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Microscopy & Microanalysis 2013 Meeting, Indianapolis, Ind., August 4-8, 2013
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