FIM meets AFM: Quantification of long-range forces in non-contact atomic force spectroscopy using field ion microscopy characterized tips
Falter, J.; Langewisch, G.; Hölscher, H.
; Fuchs, H.; Schirmeisen, A.
; Fuchs, H.; Schirmeisen, A.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230091080 |
| HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
| Erscheinungsvermerk | Frühjahrstagung DPG, Sektion Kondensierte Materie, Fachverband Oberflächenphysik, Regensburg, 10.-15. März 2013 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.48(2013), O 58.38 |