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FIM meets AFM: Quantification of long-range forces in non-contact atomic force spectroscopy using field ion microscopy characterized tips

Falter, J.; Langewisch, G.; Hölscher, H.; Fuchs, H.; Schirmeisen, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230091080
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erscheinungsvermerk Frühjahrstagung DPG, Sektion Kondensierte Materie, Fachverband Oberflächenphysik, Regensburg, 10.-15. März 2013 Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.48(2013), O 58.38
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