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Qualification of CVD diamond window assemblies by computer tomographical inspection

Geßner, R.; Meier, A.; Scherer, T.A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230091377
HGF-Programm 31.30.04; LK 01
Erscheinungsvermerk 38th Internat.Conf.on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves (IRMMW-RHz 2013), Mainz, September 1-6, 2013
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