Quantitative ACOM-STEM for in-situ straining analysis
Courtois, E.; Kobler, A.; Kuebel, C.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230091901 |
| HGF-Programm | 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect. |
| Erscheinungsvermerk | 4th International Workshop on Remote Electron Microscopy and In Situ Studies, Lisboa, P, May 22-24, 2013 |