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Quantitative ACOM-STEM for in-situ straining analysis

Courtois, E.; Kobler, A.; Kuebel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230091901
HGF-Programm 43.16.02; LK 02
Erscheinungsvermerk 4th International Workshop on Remote Electron Microscopy and In Situ Studies, Lisboa, P, May 22-24, 2013
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