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X-ray full field microscopy at 30 keV

Marschall, F.; Last, A.; Simon, M.; Kluge, M.; Nazmov, V.; Vogt, H.; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230094068
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01)
Erscheinungsvermerk 22nd International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM 2013), Hamburg, September 2-6, 2013
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