X-ray full field microscopy at 30 keV
Marschall, F.; Last, A.
; Simon, M.; Kluge, M.; Nazmov, V.; Vogt, H.; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J.
; Simon, M.; Kluge, M.; Nazmov, V.; Vogt, H.; Ogurreck, M.; Greving, I.; Mohr, J.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230094068 |
| HGF-Programm | 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics |
| Erscheinungsvermerk | 22nd International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis (ICXOM 2013), Hamburg, September 2-6, 2013 |