Thermal conductance of self-assembled monolayers using scanning thermal microscopy
Meier, T.; Menges, F.; Nirmalraj, P.; Hölscher, H.
; Riel, H.; Gotsmann, B.
; Riel, H.; Gotsmann, B.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 230094194 |
| HGF-Programm | 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring |
| Erscheinungsvermerk | MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Mass., December 1-6, 2013 |