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Thermal conductance of self-assembled monolayers using scanning thermal microscopy

Meier, T.; Menges, F.; Nirmalraj, P.; Hölscher, H. ORCID iD icon; Riel, H.; Gotsmann, B.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 230094194
HGF-Programm 43.13.01 (POF II, LK 01) Structuring
Erscheinungsvermerk MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Mass., December 1-6, 2013
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