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Thermal conductance of self-assembled monolayers using scanning thermal microscopy

Meier, T.; Menges, F.; Nirmalraj, P.; Hölscher, H.; Riel, H.; Gotsmann, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230094194
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erscheinungsvermerk MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Mass., December 1-6, 2013
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