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Dynamic force spectroscopy with cold atom scanning probe microscopy

Hölscher, H.; Syurik, J.; Günther, A.; Federsel, P.; Bell, S.; Fortagh, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230094199
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erscheinungsvermerk MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Mass., December 1-6, 2013
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