Mechanical testing of thin films up to 1000⁰C

Leisen, D.; Dany, M.; Rusanov, R.; Jakovlev, O.; Fuchs, T.; Eberl, C.; Riesch-Oppermann, H.; Kraft, O.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230094414
HGF-Programm	43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erscheinungsvermerk	European Congress and Exhibition on Advanced Materials and Processes (EUROMAT 2013), Sevilla, E, September 8-13, 2013