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Advanced electron microscopy techniques for characterization of functional nanomaterials

Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230095860
HGF-Programm 43.15.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Vortr.: Leibniz-Institut für Neue Materialien, Saarbrücken, 27.Juni 2012
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