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Critical current uniformity examination of long HTS tape using magnetic-circuit method

Zou, S.; Gu, C.; Qu, T.; Li, X.; Han, Z.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230097346
HGF-Programm 34.03.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Dresden Karlsruhe PhD Seminar, Bad Liebenzell, 25.-27.Juni 2014
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