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In-situ and ex-situ TEM characterization of a working fluoride battery

Chakravadhanula, V.S.K.; Hammad, M.; Hahn, H.; Kübel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Helmholtz-Institut Ulm (HIU)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230099685
HGF-Programm 43.15.02; LK 01
Erscheinungsvermerk International Conference on Electron Microscopy & XXXV Annual Meeting of the Electron Microscope Society of India (EMSI), Delhi, IND, July 9-11, 2014
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