Development of low-cost material measures for calibration of the metrological characteristics of areal surface texture instruments

Leach, R.; Giusca, C.; Guttmann, M.; Jakobs, P. J.; Rubert, P.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	2015
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 230102091
HGF-Programm	43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Veranstaltung	65th CIRP General Assembly, International Academy for Production Engineering (2015), Kapstadt, Südafrika, 23.08.2015 – 29.08.2015