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Development of low-cost material measures for calibration of the metrological characteristics of areal surface texture instruments

Leach, R.; Giusca, C.; Guttmann, M.; Jakobs, P.J.; Rubert, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230102091
HGF-Programm 43.13.01; LK 01
Erscheinungsvermerk International Academy for Production Engineering, CIRP 65th General Assembly, Cape Town, ZA, August 23-29, 2015
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