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Visualization for error-controlled surface reconstruction from large electron microscopy image stacks

Portl, J.; Stegmaier, J.; Mang, I.V.; Reischl, M.; Schröder, R.; Leitte, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik (IAI)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 230102937
HGF-Programm 47.01.02; LK 01
Erscheinungsvermerk Visualization in Practice, Chicago, Ill., October 25-30, 2015
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