Properties of TRL calibration for on wafer measurements on GaAs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1989 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 236389 |
| Erscheinungsvermerk | In: Mikrowellen und Optronik. 4. MIOP, Sindelfingen 1989. Hagenburg: Network 1989. |