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Generating valid tests for static CMOS- circuits based on a delay model

Lipp, Hans Martin; Schaefer, Manfred



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 1989
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 237089
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. 1988 IEEE International Symposium on Circuits and Systems, Espoo, Helsinki 1988. Vol. 1. New York, NY: IEEE 1988. S. 689-692.
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