Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
Publikationstyp | Buchaufsatz |
Publikationsjahr | 1991 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 237091 |
Erscheinungsvermerk | In: 14th Annual IEEE Design for Testability Workshop, Vail/USA 1991. |