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A confocal beam scanning white light microscope

Hell, Stephan; Hunklinger, S.; Neiger, Manfred; Schickfus, M. von; Smolka, Ernst; Wijnaendts van Resandt, R.W.; Witting, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 1992
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 237392
Erscheinungsvermerk J. of microsc. 163 (1991) S. 187-197.
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