A confocal beam scanning white light microscope

Hell, Stephan; Hunklinger, S.; Neiger, Manfred; Schickfus, M. von; Smolka, Ernst; Wijnaendts van Resandt, R. W.; Witting, S.

Seitenaufrufe: 74
seit 08.09.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Lichttechnisches Institut (LTI)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	1992
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 237392
Erscheinungsvermerk	J. of microsc. 163 (1991) S. 187-197.