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Test devices for high temperature superconductor phase shifters

Fath, U.P.; Hoefer, G.J.; Kratz, H.A.; Vogt, Andreas; Matz, Hartmut; Dolata, Ralf; Herwig, Ralf; Neuhaus, Manfred; Marienhoff, Peter; Scherer, Theo; Jutzi, Wilhelm



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1993
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 237493
Erscheinungsvermerk In: EUCAS '93, Goettingen, PBD14, 1993.
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