A common approach to test generation and hardware verification based on temporal logic
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 1991 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 237691 |
| Erscheinungsvermerk | In: Proceedings. 22. International Test Conference, Nashville, Tenn. 1991. ITC'91. Altoona, PA 1991. S. 57-66. |