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Signature analysis and test scheduling for self-testable circuits

Stroele, Albrecht P.; Wunderlich, Hans-Joachim


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 238691
Erscheinungsvermerk In: Fault-tolerant computing. 21st International Symposium, Montreal, Canada 1991. Digest of papers. Los Alamitos, Calif. 1991. S. 96-103.
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