TESTCHIP: a chip for weighted random pattern generation evaluation and test control
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 1991 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 238791 |
| Erscheinungsvermerk | IEEE j. of solid-state circuits 26 (1991) S. 1056-1063. |