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Maximizing the fault coverage in complex circuits by minimal number of signatures

Wunderlich, Hans-Joachim; Stroele, Albrecht P.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 1991
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 239091
Erscheinungsvermerk In: Proceedings. International Symposium on Circuits and Systems. ISCAS'91, Singapore 1991. New York 1991. S. 1881-1884.
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