| Zugehörige Institution(en) am KIT | Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1970 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240004513 |
| Erscheinungsvermerk | 1970 Annual Symp. on Reliability,Los Angeles,Calif., Febr. 3-5, 1970. Proceedings. (New York,N.Y.: Inst. of Electrical and Electronics Engineers 1970.) |