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Kostenoptimierung von Zuverlaessigkeitstests bei vorgegebener Genauigkeitsforderung

Naegele, G.; Sellinschegg, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1971
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 240004910
Erscheinungsvermerk Tagung fuer technische Zuverlaessigkeit 1971, Nuernberg, 5.-7. Mai 1971 Technische Überwachung, 12(1971)
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