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Test Cost Minimization for Reliability Assessment

Naegele, G.G.; Sellinschegg, D.W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1972
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240005773
Erscheinungsvermerk Proceedings 1972 Annual Reliability and Maintainability Symp., San Francisco, Calif., January 25-27, 1972 (Annals of Assurance Sciences, 5, No 1(1972). New York, N.Y.: IEEE 1972.)
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