Transient tests in SEFOR

Oosterkamp, W. J.; Bogensberger, H.; Wintzer, D.

Seitenaufrufe: 56
seit 03.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1972
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240005777
Erscheinungsvermerk	Reaktortagung, Hamburg, 11.-14. April 1972, Deutsches Atomforum e.V., Kerntechnische Ges.im Dt. Atomforum e.V., Leopoldshafen 1972: ZAED.