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Transient tests in SEFOR

Oosterkamp, W.J.; Bogensberger, H.; Wintzer, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Abteilung für angewandte Systemanalyse (AFAS)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1972
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240005777
Erscheinungsvermerk Reaktortagung, Hamburg, 11.-14. April 1972, Deutsches Atomforum e.V., Kerntechnische Ges.im Dt. Atomforum e.V., Leopoldshafen 1972: ZAED.
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