Backscattering Energy Loss Parameter Measurements in Thin Metal Films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Kernphysik (IAK) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1973 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240006686 |
| Erscheinungsvermerk | International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, IBM-Research, Yorktown Heights, N.Y., June 18-20, 1973 Thin Solid Films, 19(1973) |