Comparison of Backscattering Parameters Using High Energy Oxygen and Helium Ions

Petersson, S.; Tove, P. A.; Meyer, O.; Sundqvist, B.; Johansson, A.

Seitenaufrufe: 33
seit 01.06.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp	Vortrag
Publikationsjahr	1973
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 240006693
Erscheinungsvermerk	International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis, IBM-Research, Yorktown Heights, N.Y., June 18-20, 1973 Thin Solid Films, 19(1973)