Surface analysis of ion bombarded metal foils by XPS
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Heiße Chemie (IHCH) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1976 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240010274 |
| Erscheinungsvermerk | Meyer, O., Linker, G., KAEPPELER, F.[Hrsg.]: Ion Beam Surface Layer Analysis. 2. Internat.Conf., Karlsruhe, September 15-19, 1975. Vol. 2. New York[usw.]: Plenum Pr. 1976. |