KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Surface analysis of ion bombarded metal foils by XPS

Henrich, E.; Schmidt, H.J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Heiße Chemie (IHCH)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1976
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240010274
Erscheinungsvermerk Meyer, O., Linker, G., KAEPPELER, F.[Hrsg.]: Ion Beam Surface Layer Analysis. 2. Internat.Conf., Karlsruhe, September 15-19, 1975. Vol. 2. New York[usw.]: Plenum Pr. 1976.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page