Anwendung der Auger-Elektronenspektroskopie-Profilanalyse und der Sekundaerionenmassenspektrometrie auf die Untersuchung von Veraenderungen der Oberflaechenzusammensetzung
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1977 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240010861 |
| Erscheinungsvermerk | Internat.Symposium on Microchemical Techniques, Davos, May 22-27, 1977 Mikrochimica Acta, (1977) II |