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Anwendung der Auger-Elektronenspektroskopie-Profilanalyse und der Sekundaerionenmassenspektrometrie auf die Untersuchung von Veraenderungen der Oberflaechenzusammensetzung

Schneider, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung (IMF)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1977
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 240010861
Erscheinungsvermerk Internat.Symposium on Microchemical Techniques, Davos, May 22-27, 1977 Mikrochimica Acta, (1977) II
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