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Channelling effect studies in V₃Si single crystals

Meyer, O.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Vortrag
Publikationsjahr 1978
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 240011890
Erscheinungsvermerk 3.Internat.Conf.on Ion Beam Analysis, Washington, D.C., June 27 - July 1, 1977 Nuclear Instruments and Methods, 149(1978) In: KfK-2659 (Maerz 78)
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