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Scanning system for a 5 MeV electron microscope

Strojnik, A.; Passow, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Kernphysik (IK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1978
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240012795
Erscheinungsvermerk Scanning electron microscopy. Chicago,Ill.: IIT Research Inst. 1978, 1., S.292, S.319-324
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