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Secondary fluorescence induced in elements in the micrometer vicinity of ion microprobe spots in PIXE experiments

Heck, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1981
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240015640
Erscheinungsvermerk Bird, J.R.; Clarc, G.J. [Hrsg.] Proc.of the 5th Internat.Conf.on Ion Beam Analysis, Sydney, AUS, February 16-20, 1981 Nuclear Instruments and Methods, 191(1981)
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