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The influence of secondary fluorescence from elements adjacent to the microbeam spot on local concentration determination with PIXE

Heck, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Kernphysik (IAK)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1981
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 240015732
Erscheinungsvermerk Proc.of the 2nd Internat.Conf.on Particle Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, Lund, S, June 9-12, 1980 Nuclear Instruments and Methods, 181(1981)
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