| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Materialforschung (IMF) |
| Publikationstyp | Vortrag |
| Publikationsjahr | 1987 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 240015769 |
| Erscheinungsvermerk | Sankar Das, M. [Hrsg.] Trace Analysis and Technological Development : Special and Contrib.Papers pres.at an Internat.Symp., Bombay, IND, February 16-19, 1981 New Delhi [u.a.] : Wiley Eastern Ltd, 1983. - |