KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Truncated sequential test procedure using the CUMUF statistic for a timely detection of diversion

Beedgen, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Datenverarbeitung in der Technik (IDT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 1983
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 240017449
Erscheinungsvermerk Nuclear Safeguards Technology 1982 Proc.of an Internat.Symp.on Recent Advances in Nuclear Material Safeguards, held in Wien, A, November 8-12, 1982 Wien: IAEA 1983 Vol.II IAEA-SM-260/5
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page